半导体分析

如果您需要测量半导体制造中所用化学品中的杂质，或者测试硅晶片或最终元件中的污染物，安捷伦科技能您提供最灵敏、最可靠和最稳健的分析方法满足您的需求。安捷伦的分析仪器为整个半导体行业中各种样品的痕量元素分析提供最高的性能，这些样品包括表面金属萃取（SME）的硅片、太阳能光伏硅片、高纯制程化学品、超纯水、有机试剂和光阻材料。此外，安捷伦科技为您提供世界级的应用和服务支持，确保您保持最高的工作效率。

     

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