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半导体和电子元件污染监测与控制的完整解决方案

半导体是现代电子元件的核心,从智能手机到汽车等各个领域均有广泛应用。随着半导体行业的发展,设备变得更小、更快、更可靠、功能更强大。然而,随着组件缩小到纳米级,污染物监测与控制变得越来越重要,因为即使是超痕量级的污染物也会降低产量,导致产品可靠性问题或产品缺陷。半导体和电子元件中的杂质分析必须在整个制造过程的各个环节进行,从检测晶圆、原材料和制程化学品到成品的 QA/QC。无论您是检测无机杂质、微粒、有机杂质,进行光子学分析,还是需要符合环境健康和安全法规,安捷伦都能提供分析仪器、软件、服务和支持,满足您的半导体杂质检测需求。

如果您对半导体和电子元件检测有任何疑问或希望与安捷伦客户服务中心联系,请通过以下方式联系我们。

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半导体和电子元件检测应用

半导体中的无机杂质

监测和控制晶圆、溅射靶材、制程化学品、光阻材料和电子气体中的痕量级和超痕量级金属污染物。

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半导体中的有机杂质

要分析痕量级有机杂质?凭借业内出众的仪器和应用,安捷伦可满足您的一切需求。

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半导体中的颗粒分析

用于监测化学品原料、晶圆加工和清洁浴槽中的金属纳米颗粒 (NP) 和溶解态金属的解决方案。

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材料环境健康和安全合规性

安捷伦提供环境健康和安全 (EH&S) 检测技术,为行业的可持续发展提供支持。

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光子和光电设备与组件分析

安捷伦 UV-Vis 和 UV-Vis-NIR 分光光度计针对光子器件和组件提供完整的光子检测和测量解决方案。

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半导体和电子元件中的真空和检漏

真空泵和真空计以及精密、稳定、简便易用的检漏仪可为您节省时间和成本。

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我们随时准备为您的材料检测和研究应用提供帮助。

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