地质学
可靠、稳定且灵敏的金属分析解决方案
精确的分析和快速样品分析周期对于矿产加工商和地质学家来说至关重要。在竞争激烈的全球环境中,地化实验室面临着诸多挑战,包括分析的样品量越来越大、检测限越来越低,以及对样品量极少的样品中贵金属定量产生的干扰进行处理。
为了应对这些挑战,安捷伦提供一系列灵活、准确且耐用的系统,突破了灵敏的金属分析的瓶颈。开创性的串联四极杆 8800 ICP-MS 系统可用于稀土元素杂质分析。ICP-OES 和 MP-AES 技术能够快速获得结果,适用于矿石品位贵金属和基本金属分析。
此外,使用稳定的进样系统可分析高通量的复杂地化样品消解物;多用雾化器 (Agilent OneNeb) 和安捷伦微型气相色谱系统可提供前所未有的现场监测功能,以及快速、准确和灵敏的环境信息。
应用详情
应用简报
Agilent 4210 MP-AES 用于快速测定地质样品中的金
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- 日期 : 2016 年 9 月 18 日
- 文件大小 : 279.41 KB
使用 ICP-MS/MS 在 MS/MS 模式下消除 176Yb 和 176Lu 对 176Hf 的干扰以实现准确的 176Hf/177Hf 同位素比分析
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- 日期 : 2018 年 8 月 27 日
- 文件大小 : 1.40 MB
使用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 对高纯度 Nd2O3 中的痕量稀土元素进行常规测定
- 如需 PDF,请访问:应用简报
- 日期 : 2018 年 8 月 30 日
- 文件大小 : 364.22 KB
资料库
- 重要资料
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4200 微波等离子体原子发射光谱仪 (MP-AES) 测定地质样品中的常量和微量元素
4200 微波等离子体原子发射光谱仪 (MP-AES) 测定地质样品中的常量和微量元素
- 应用简报
- Chinese (Simplified)
- 2014 年 4 月 21 日
- 591.61 KB
使用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 进行常规土壤分析
Agilent 8800 ICP-MS/MS HMI 经验证能够测量高基质土壤样品中各种各样的痕量和常量元素。
- 应用简报
- Chinese (Simplified)
- 2017 年 4 月 13 日
- 591.56 KB
Agilent ICP-OES 应用手册
在该 ICP-OES 电子手册中,您查找环境、食品、农业、能源和化工等行业的现有与新兴元素分析应用。
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- 2022 年 12 月 27 日
- 6.32 MB
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