产品详细信息
特性
- 钻石晶体 ATR 接口是分析固体、液体、糊状物和凝胶的理想选择。
- 漫反射采样接口适用于分析各种样品,包括艺术品、土壤、岩石和矿物、复合材料、未经加工的塑料、织物和金属表面的腐蚀物。
- 镜面发射接口可分析反射金属(如铝和钢铁)表面的薄膜和镀膜。入射角度为 45 度。
- 掠角反射接口的入射角为 82 度,使其成为分析非常薄(亚微米)的薄膜的理想选择。Ge 晶体 ATR 接口(由锗晶体构成)非适合分析高吸光性固体和液体样品。
技术
反射 FTIR 光谱
反射 FTIR 用于从固体样品中获得高质量的光谱数据。镜面反射用于反射表面,漫反射 (DRIFTS) 用于较粗糙、反射较少的表面(通常为粉末),掠角反射吸收 FTIR 用于测量亚微米薄膜和表面污染物。
了解更多信息资料库
- 重要资料
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Agilent 4300 Handheld FTIR Spectrometer Brochure
At-site. Immediate results. True non-destructive analysis. Perform accurate, non-destructive material testing with the Agilent 4300 Handheld FTIR.
- 产品样本
- English
- 2014 年 3 月 1 日
- 4.56 MB
Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR Specular Reflectance
Agilent 4300 handheld FTIR spectrometer with specular reflectance identifies substrate materials, evaluates presence of contaminants, quantifies contaminants.
- 应用简报
- English
- 2023 年 5 月 24 日
- 2.13 MB
Comparison of Portable FTIR Techniques for the Analysis of Paints, Minerals & Concrete
ATR, Diffuse Reflectance and 45 degree specular reflectance FTIR spectroscopy measurements were compared for paint, concrete and rock samples.
- 应用简报
- English
- 2017 年 8 月 21 日
- 1.25 MB
- 产品样本
- 目录
技术支持
- 常见问题解答
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- 补充信息
工具
视频
培训与活动
Spectroscopy Digital Workshops & Bootcamps
Hone your lab skills, outside the lab, with our live, interactive series of virtual workshops and software bootcamps! Learn about the latest in software solutions for Spectroscopy, discuss the entire analytical process from method development to data analysis, and participate in live analytical runs with our experts. We hope these will prepare you for future hands-on events in the future.
网络研讨会/培训
新闻
使用手持式直接漫反射 FTIR 光谱分析锂矿石
一份新的应用简报评估了使用手持式 4300 FTIR 在直接 DRIFTS 模式下快速、直接且无损地鉴别岩石。无需挖掘或将样品运送到实验室即可识别潜在的锂矿开采地点。只需将设备对准目标岩石进行分析,然后与地质材料数据库进行比对,或使用定量模型来确定岩石中的矿物含量。
- 2024 年 11 月 4 日
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