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ICP-OES

电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES)

了解您的实验室将保持高效并获得可靠的结果

电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES) 又称为电感耦合等离子体原子发射光谱 (ICP-AES),这是一种成熟的技术,用于测定多种样品中所含的元素。如需了解更多相关信息,请查看“学习工具”框中的“常见问题解答”。

安捷伦 ICP-OES 系统的硬件和软件都具有智能功能,可提供可靠的分析结果并减少实验室浪费的时间。得益于系统内置的传感器,分析人员将准确了解何时需要清洁或例行维护他们的 ICP-OES 或 ICP-AES。得益于发现干扰物质并提供备份结果的算法,实验室管理人员将确信其 ICP-OES 系统可提供准确的结果。

无论您的实验室需求是什么,您一定可以在这里找到合适的 ICP-OES。如果您需要帮助或有任何问题,请通过产品页面上的其中一个链接与我们联系;我们非常乐意为您提供帮助。

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我们正在使用 Agilent 5800 ICP-OES 来支持我们的原电池金属提取和锂离子电池回收项目。5800 ICP-OES 及其灵敏的水平观测可实现可靠的痕量杂质分析。垂直双向观测附件使我们能够对目标分析物(锂、镍、钴和锰)以及高盐浓度基质中的微量元素杂质统一准确地量化。电池金属的痕量杂质分析至关重要,因为这些杂质(例如铁和锌)会显著影响性能和锂离子电池的安全性。

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