ICP-MS 采样锥和维护工具包
ICP-MS 采样锥构成接口区的一部分，从大气等离子体中采集离子，并将其传输到高真空 MS 中进行检测。高品质采样锥对于保证 ICP-MS 的灵敏度和稳定性至关重要。
安捷伦镍尖或铂尖采样锥使用高纯度材料，能够尽可能减小背景并确保等离子体条件下的稳定性。它们按照严格的规格指标进行制造，并经过严格的测试，可确保获得优异的批次间重现性。孔口尺寸和尖端几何形状经过优化，并受到严格控制，因为它们是定义 ICP-MS 灵敏度、背景水平、氧化物和双电荷比以及基质耐受性的关键参数，这些参数都是成功测量样品中元素含量的关键参数。
对于半导体和先进材料等高要求应用，铂尖锥可以实现极低的背景。
安捷伦镍尖或铂尖采样锥使用高纯度材料，能够尽可能减小背景并确保等离子体条件下的稳定性。它们按照严格的规格指标进行制造，并经过严格的测试，可确保获得优异的批次间重现性。孔口尺寸和尖端几何形状经过优化，并受到严格控制，因为它们是定义 ICP-MS 灵敏度、背景水平、氧化物和双电荷比以及基质耐受性的关键参数，这些参数都是成功测量样品中元素含量的关键参数。
对于半导体和先进材料等高要求应用，铂尖锥可以实现极低的背景。
产品详细信息
特性
- 对于常规应用，选择具有出色的耐化学腐蚀性和长寿命的经济型 Ni 尖采样锥。
- 选择对腐蚀性基质具有化学耐受性，并且背景极低，满足痕量分析需求的 Pt 尖采样锥。
- 为半导体和先进材料等先进应用选择 SC（半导体）铂尖锥，以实现超痕量分析的绝对低背景。
- 在分析含有 HCl、王水或 HF 的基质时，配备镀镍铜基座的采样锥的寿命更长、维护需求更少。
- 安捷伦原装接口锥经过 100% 质量检验，能够在整个质量范围内提供优异的灵敏度。
- 每次拆下采样锥时应检查石墨垫圈（部件号 G3280-67009），如有损坏，请进行更换
- 安捷伦提供便捷的 ICP-MS 接口锥放大镜（部件号 5190-9614），让检查锥孔口变得更简单，以实现可靠的接口锥性能。
工作原理
应用
