产品详细信息
特性
- 快速提高常规金属分析效率 — ICP-MS MassHunter 软件包括预设方法,这些方法可轻松载入并以预定义设置(从等离子体条件到分析物积分时间和内标)运行。对于新方法,方法向导可基于样品类型和应用创建方法。
- 减少样品前处理 — 7800 ICP-MS 标配独特的高基质进样 (HMI) 技术,无需稀释即可分析总溶解态固体 (TDS) 含量高达 3% 的样品,减少了样品前处理并节省了时间。
- 最大程度减小信号抑制 — HMI 可减小信号抑制,因此可以准确测定高基质样品而无需基质匹配的校准标样。
- 有效去除干扰,确保数据准确性 — 氦 (He) 碰撞模式可在同一套质谱条件下去除多原子离子干扰,简化了方法开发与日常操作。He 模式无需针对特定基质或分析物的反应池条件。
- 在一次运行中同时分析常量和痕量元素 — 宽动态范围正交检测器系统 (ODS) 可在一次运行中实现常量元素(数百或数千 ppm)与痕量元素(ppt 或亚 ppt 级)的直接分析。较高的浓度上限可减少由超量程结果造成的样品再运行。
- 最大程度提高通量和分析效率 — 可选的集成进样系统 (ISIS 3) 和 SPS 4 自动进样器可在不影响数据质量的前提下降低每次分析的成本。
资料库
- 重要资料
-
Solution-ready Agilent 7800 ICP-MS
Fast-track your metals analysis with solution-ready Agilent 7800 ICP-MS
- 产品样本
- English
- 2019 年 8 月 1 日
- 1.18 MB
Fast-track your metals analysis with the Agilent 7800 ICP-MS
General metals analysis with the solution-ready Agilent 7800 ICP-MS
- 宣传单页
- English
- 2015 年 5 月 28 日
- 1.42 MB
Fast-track your environmental waste analysis with the Agilent 7800 ICP-MS
Waste analysis with the solution-ready Agilent 7800 Quadrupole ICP-MS
- 宣传单页
- English
- 2015 年 5 月 29 日
- 1.46 MB
- 应用简报
- 产品样本
- 宣传单页
- 电子期刊
- 挂图
- 基础导论
- 技术概述
- 白皮书
技术支持
- 常见问题解答
-
- 现场准备清单
- 用户手册
视频
ICP-MS 基本组件(英语版本)
- 00:10:29
- 2015 年 3 月 6 日
干扰控制(英语版本)
- 00:07:01
- 2015 年 3 月 6 日
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应用与行业
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