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Access Agilent 电子期刊(2015 年 7 月)

简化常规元素分析:
可即刻运行的新型 7800 ICP-MS 和
安捷伦的 SPS 4 自动进样器

作者: Ed McCurdy
安捷伦 ICP-MS 产品营销专员

Tomo Yamada
安捷伦 ICP-MS 产品经理

Steve Wilbur
Agilent ICP-MS 系统软件产品经理

没有两个实验室的样品类型、分析要求或工作量完全相同。然而,许多机构需要遵循法规或标准方法,并有很多其他机构自身开发出明确的应用工作流程以管理样品的分析过程。这些“常规”检测实验室在选择仪器时,除仪器的性能和可靠性以外,对仪器的耐用性、分析效率和简便易用性也有重要要求。新型 Agilent 7800 ICP-MS图 1)可提供经验证的高性能以及方法优化工具和预定义的批处理模板,简化了仪器设置和常规操作,从而能够满足这些实验室的要求。

图 1. 配置用于常规分析的新型 Agilent 7800 ICP-MS

利用可即刻运行的 ICP-MS 简化实验室操作

Agilent 7800 ICP-MS 经过优化,简便易用,有助于常规和高通量实验室轻松实现方法开发。利用针对常见应用的自动优化工具、预设方法和标准操作程序 (SOP),可快速设置、简化方法设置并实现可靠的常规操作。SOP 包括饮用水和废水 SOP 以及用于药品分析的 USP<232>/ICH Q3D,其他 SOP 正在开发当中。

成熟的产品阵容,让您信心十足

以成功的 Agilent 7700x ICP-MS 为基础,新型 7800 ICP-MS 使用高基质进样 (HMI) 技术提高基质耐受性,使用标准氦气 (He) 池模式实现可靠的干扰去除,并采用正交检测器系统 (ODS) 提供宽动态范围。Agilent 7800 ICP-MS 能够:

  • 由于 HMI 具有高稳定性和基质耐受性,可分析任何典型的样品(总溶解态固体量 (TDS) 最高达 3%,比传统 ICP-MS 系统高出 10 倍),最大程度减小基质抑制效应
  • 使用一致的单 He 池模式去除基质中所有的典型多元素干扰
  • 利用动态范围达 10 个数量级的检测器可在同一运行中测量主要元素和痕量元素,并最大程度减少超范围结果造成的重复运行次数

利用可即刻运行的 ICP-MS 加快您的实验室操作

Agilent 7800 ICP-MS 经过优化,简便易用,提供完善的性能证书。 利用针对常见应用的预定义模板、预设方法和标准操作程序 (SOP),可快速设置、简化方法优化并实现可靠的常规操作。SOP 包括饮用水和废水 SOP 以及用于药品分析的 USP<232>/ICH Q3D,其他 SOP 正在开发当中。

利用新型 SPS 4 自动进样器和 ISIS 3 提高分析效率和简便易用性

图 2. 用于原子光谱应用的新型 Agilent SPS 4 自动进样器

Agilent SPS 4 自动进样器图 2)是新一代高性能自动进样器,其创新设计旨在满足高通量实验室对快速、可靠、高容量自动进样器的需求。SPS 4 适用于通过 ICP-MS 进行超痕量分析,同时还可提供 FAAS、MP-AES 和 ICP-OES 用户要求的耐用性和稳定性。

该新型自动进样器具有更高的准确度和精密度,快速、易于操作且耐腐蚀,此外占地面积(包括外罩)比其他具有类似样品容量的自动进样器小近 40%。Agilent SPS 4 借助可选的集成式防护罩,提供最大的样品完整性,同时保护您的实验室环境不受有害样品蒸气的影响。灵活的样品和标样架配置适用于各种样品容量。例如,四个样品架最多可容纳 360 个 10 mL 样品瓶或 768 孔微量滴定板。

在要求分析更多样品并加快分析速度的情况下,第三代安捷伦集成进样系统 (ISIS 3) 最近随 Agilent 7900 ICP-MS 推出,可作为 Agilent 7800 ICP-MS 的选件。借助其高速提升泵与结合紧凑的 7 通切换阀,ISIS 3 可实现快速不连续采样,最大程度提高通量和分析效率。

利用全新的 ICP-MS MassHunter 4.2 软件简化仪器准备、设置和检测操作

最新版 Agilent ICP-MS MassHunter 4.2 对于简化 Agilent 7800 ICP-MS 的操作是必不可少的。新用户将亲身体验到直观的优化程序和作为启动的组成部分而自动执行的性能验证测试。预设方法预定义了许多常见应用的分析参数,并且 ICP-MS MassHunter 的方法向导可根据关于样品的几个问题开发功能完备的方法。高度直观的用户界面可引导用户完成所有的分析阶段,从硬件配置和仪器优化到样品采集和数据分析,常规 ICP-MS 操作变得异常简单(图 3)。

图 3. 批处理窗格具有直观的用户界面

Agilent ICP-MS 期刊

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