Access Agilent 电子期刊,2014 年 5 月
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为您的液质联用离子淌度研究提供一个新的分析维度
作者:Ken Imatani
安捷伦 QTOF LC/MS 产品经理
Agilent 6560 离子淌度四极杆飞行时间 (IM-QTOF) 液质联用系统 (LC/MS) 是首款商用匀场离子淌度 (IM) 系统,与 Agilent 1290 Infinity UHPLC 系统联用后,为液相色谱 (LC)、IM 和质谱 (MS) 技术的分离能力和选择性提供了有效的组合。
离子淌度测量提供的另一维分离和结构信息,使从事前沿研究的实验室得以加快研究的进程,并对化合物鉴定更有信心。该仪器是目前市场上唯一一款漂移离子迁移的高分辨(淌度和质量)LC/MS 系统,可同时提供高灵敏度和精确的碰撞截面测量。
获得更多复杂样品的分析结果
Agilent 6560 IM Q-TOF 系统由许多研究所和政府实验室的科学家合作开发而成。多项研究证明,在复杂样品分析时,相比于单纯的高分辨质谱技术,该仪器展现出有效揭示更多分析信息的能力。
研究人员的报告显示,在高分辨质谱成为蛋白质组学、代谢组学以及其它需要分析非常复杂的样品领域的基础装备后,人们又将目光投向了实现其他维度分离的超快速正交技术。这款全新的离子淌度系统可赋予研究人员更多的分析能力,应对以下分析难题:
分离结构异构体
- 利用高分辨率的离子淌度分离功能探查分子结构和多肽以及蛋白质的构象
- 通过碰撞截面直接测定分子大小,无需使用参比标准物或者校准列表
提高峰容量
- 结合 UHPLC、离子淌度和质谱的综合能力,实现复杂混合物中单个组分的有效分离
- 利用双栅捕集技术获得最优的离子淌度分离
发现和确认微量组分
- 电动力漏斗技术可轻松应对复杂基质中低至飞克级的分析物检测
- 通过全离子 MS/MS 分析高度可靠地鉴定化合物
保留蛋白质的构象特征
- 轻松研究气相中多肽和蛋白质的结构
- 有效降低离子加热效应以保留分子构象
在痕量水平上获得高质量的 MS/MS 谱图
Agilent 6560 IM Q-TOF 系统无需校准标样即可直接测量碰撞截面(CCS 或 Ω)(图1),其在均匀的低电场条件下运行,因此可将离子的漂移时间信息用于碰撞截面测量。该仪器采用创新的离子漏斗技术,显著增加了进入质谱仪的离子数量,从而能够在痕量水平上获得更高质量的 MS/MS 质谱图。要了解更多有关该技术的详细信息,请参阅安捷伦技术综述 5991-3244CHCN。
Agilent 6560 IM Q-TOF 使离子淌度分析性能获得显著提高
Agilent IM-QTOF LC/MS 系统是商业化分析型离子淌度质谱开发中的重要进展。均匀漂移电场淌度池和高分辨 Q-TOF 仪接口的最佳开发,使离子淌度分析性能得到了显著提高。采用了近三年来在三重串联四极杆和 Q-TOF 仪器上采用安捷伦首创的离子漏斗技术造就了新的 IM-QTOF 系统,从而将优异的离子淌度分离和质谱的高灵敏度质量分辨率结合起来。
数家合作单位近期的研究工作证明了该仪器具有以下优势:
- 更好地分离脂类和糖肽化合物
- 更精确地测量碰撞截面,提高了不同结构构象和同分异构体表征的可信度
- 能够分析复杂基质中更多的痕量级肽类
- 保留了液相溶液中金属蛋白的结构真实性
为了最大限度地提高该系统的分析实用性,安捷伦还为离子淌度数据的可视化开发了软件工具。Agilent LC/MS MassHunter 软件设计可以让研究人员查询淌度/质量方面的数据,以高的精密性和准确度轻松确定碰撞截面值。
安捷伦提供有完整系列的 LC/MS 和 GC/MS 产品解决方案
要了解更多有关 Agilent 6560 离子淌度系统的原理和功能,请观看此动画视频。然后花几分钟了解完整系列的 Agilent IM-QTOF LC/MS 系统和气质联用解决方案。
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